Caracterització textural i cristal·loquímica de materials d'interés tecnològic mitjançant la difracció de raigs X

    (Autor/autora) , (Editor)

    Caracterización textural y cristaloquímica de materiales de interés tecnológico mediante la difracción de rayos X.

    Autor/autora
    Editor
    Colección
    IAM Investigació
    Materia
    Tecnología, Ingeniería
    Idioma
    • Valencià
    Editorial
    Institució Alfons el Magnànim-Centre Valencià d'Estudis i d'Investigació
    EAN
    9788478222018
    ISBN
    978-84-7822-201-8
    Páginas
    103
    Ancho
    15 cm
    Alto
    21 cm
    Edición
    1
    Fecha publicación
    01-10-1996
    Número en la colección
    20
    Tapa blanda
    6,01 €

    Libros relacionados